| परीक्षण एवं निरीक्षण | न्यूनतम नमूना आकार | स्तर |
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| बैच की मात्रा 200 टुकड़ों से कम नहीं है | बैच मात्रा: 1-199 टुकड़े (नोट 1 देखें) |
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| आवश्यक परीक्षण |
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| एक स्तर |
| अनुबंध पाठ और एनकैप्सुलेशन |
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| A1 |
| अनुबंध पाठ और पैकेजिंग निरीक्षण (4.2.6.4.1) (गैर-विनाशकारी) | सभी | सभी |
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| उपस्थिति का निरीक्षण |
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| A2 |
| एक।कुल मिलाकर (4.2.6.4.2.1) (गैर-विनाशकारी) | सभी | सभी |
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| बी।विवरण (4.2.6.4.2.2) (गैर-विनाशकारी) | 122 टुकड़े | 122 टुकड़े या सभी (बैच मात्रा 122 टुकड़े से कम) |
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| पुनः टाइप करना और नवीनीकरण करना (हानिपूर्ण) | नोट 2 देखें | नोट 2 देखें | A3 |
| टाइपिंग के लिए सॉल्वेंट टेस्ट (4.2.6.4.3ए) (हानिपूर्ण) | 3 टुकड़े | 3 टुकड़े |
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| नवीनीकरण के लिए विलायक परीक्षण (4.2.6.4.3बी) (हानिकारक) | 3 टुकड़े | 3 टुकड़े |
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| एक्स रे का पता लगाना |
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| A4 |
| एक्स-रे डिटेक्शन (4.2.6.4.4) (गैर-विनाशकारी) | 45 टुकड़े | 45 टुकड़े या सभी (बैच मात्रा 45 टुकड़ों से कम) |
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| लीड डिटेक्शन (एक्सआरएफ या ईडीएस/ईडीएक्स) | नोट3 देखें | नोट3 देखें | A5 |
| एक्सआरएफ (हानिरहित) या ईडीएस/ईडीएक्स (हानिपूर्ण) (4.2.6.4.5) (अनुलग्नक सी.1) | 3 टुकड़े | 3 टुकड़े |
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| खुला कवर आंतरिक विश्लेषण (हानिकारक) | नोट6 देखें | नोट6 देखें | A6 |
| खुला कवर (4.2.6.4.6) (हानिकारक) | 3 टुकड़े | 3 टुकड़े |
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| अतिरिक्त परीक्षण (कंपनी और ग्राहक दोनों द्वारा सहमत) |
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| पुनः टाइप करना और नवीनीकरण करना (हानिपूर्ण) | नोट 2 देखें | नोट 2 देखें | A3 विकल्प |
| स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (4.2.6.4.3C) (हानिकारक) | 3 टुकड़े | 3 टुकड़े |
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| सतही मात्रात्मक विश्लेषण (4.2.6.4.3डी) (गैर-विनाशकारी) | 5 टुकड़े | 5 टुकड़े |
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| ताप का परीक्षण |
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| बी स्तर |
| थर्मल चक्र परीक्षण (अनुलग्नक सी.2) | सभी | सभी |
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| विद्युत गुणों का परीक्षण |
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| सी लेवल |
| विद्युत परीक्षण (अनुलग्नक सी.3) | 116 टुकड़े | सभी |
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| उम्र बढ़ने का परीक्षण |
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| डी स्तर |
| बर्न-इन परीक्षण (परीक्षण से पहले और बाद में) (अनुलग्नक सी.4) | 45 टुकड़े | 45 टुकड़े या सभी (बैच मात्रा 45 टुकड़ों से कम) |
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| जकड़न की पुष्टि (न्यूनतम रिसाव दर और अधिकतम रिसाव दर) |
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| ई लेवल |
| जकड़न की पुष्टि (न्यूनतम और अधिकतम रिसाव दर) (अनुलग्नक सी.5) | सभी | सभी |
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| ध्वनिक स्कैनिंग परीक्षण |
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| एफ स्तर |
| ध्वनिक स्कैनिंग माइक्रोस्कोप (अनुलग्नक C.6) | नियम से | नियम से |
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| अन्य |
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| जी लेवल |
| अन्य परीक्षण एवं निरीक्षण | नियम से | नियम से |
टिप्पणियाँ:
1. 10 से कम टुकड़ों के बैच के लिए, कॉग्निजेंट इंजीनियर अपने विवेक से, परीक्षण की गुणवत्ता और ग्राहक की सहमति के अधीन, "हानिपूर्ण" परीक्षण के लिए नमूना आकार को 1 टुकड़े तक कम कर सकते हैं।
2. रीटाइपिंग और रीफर्बिशिंग परीक्षण के लिए नमूने "उपस्थिति परीक्षण - विस्तृत परीक्षण" के लिए बैच से चुने जा सकते हैं।
3. लीड परीक्षण नमूनों को "उपस्थिति परीक्षण - विस्तृत परीक्षण" के लिए बैच से चुना जा सकता है।
4. ओपन कवर परीक्षण नमूनों को "रीटाइपिंग और रीफर्बिशिंग टेस्ट" से गुजरने वाले बैच से चुना जा सकता है।