वन-स्टॉप इलेक्ट्रॉनिक विनिर्माण सेवाएँ, आपको पीसीबी और पीसीबीए से अपने इलेक्ट्रॉनिक उत्पादों को आसानी से प्राप्त करने में मदद करती हैं

AS6081 परीक्षण मानक

परीक्षण और निरीक्षण

न्यूनतम नमूना आकार

स्तर

 

 

बैच मात्रा 200 टुकड़ों से कम नहीं है

बैच मात्रा: 1-199 टुकड़े (नोट 1 देखें)

 

आवश्यक परीक्षण

 

 

एक स्तर

अनुबंध पाठ और एनकैप्सुलेशन

 

 

A1

अनुबंध पाठ और पैकेजिंग निरीक्षण (4.2.6.4.1) (गैर-विनाशकारी)

सभी

सभी

 

उपस्थिति का निरीक्षण

 

 

A2

क. समग्र (4.2.6.4.2.1) (गैर-विनाशकारी)

सभी

सभी

 

ख. विवरण (4.2.6.4.2.2) (गैर-विनाशकारी)

122 टुकड़े

122 टुकड़े या सभी (बैच मात्रा 122 टुकड़ों से कम)

 

पुनः टाइपिंग और नवीनीकरण (हानिकारक)

नोट 2 देखें

नोट 2 देखें

A3

टाइपिंग के लिए विलायक परीक्षण (4.2.6.4.3A) (हानिकारक)

3 टुकड़े

3 टुकड़े

 

नवीनीकरण के लिए विलायक परीक्षण (4.2.6.4.3B) (हानिकारक)

3 टुकड़े

3 टुकड़े

 

एक्स-रे का पता लगाना

 

 

A4

एक्स-रे डिटेक्शन (4.2.6.4.4) (गैर-विनाशकारी)

45 टुकड़े

45 टुकड़े या सभी (बैच मात्रा 45 टुकड़ों से कम)

 

सीसा पहचान (XRF या EDS/EDX)

नोट3 देखें

नोट3 देखें

A5

एक्सआरएफ (हानिरहित) या ईडीएस/ईडीएक्स (हानिपूर्ण) (4.2.6.4.5) (अनुलग्नक सी.1)

3 टुकड़े

3 टुकड़े

 

खुला आवरण आंतरिक विश्लेषण (हानिकारक)

नोट6 देखें

नोट6 देखें

A6

खुला आवरण (4.2.6.4.6) (हानिकारक)

3 टुकड़े

3 टुकड़े

 

अतिरिक्त परीक्षण (कंपनी और ग्राहक दोनों द्वारा सहमति)

 

 

 

पुनः टाइपिंग और नवीनीकरण (हानिकारक)

नोट 2 देखें

नोट 2 देखें

A3 विकल्प

स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (4.2.6.4.3C) (हानिकारक)

3 टुकड़े

3 टुकड़े

 

सतही मात्रात्मक विश्लेषण (4.2.6.4.3D) (गैर-विनाशकारी)

5 टुकड़े

5 टुकड़े

 

ऊष्मा परीक्षण

 

 

बी स्तर

थर्मल चक्र परीक्षण (अनुलग्नक C.2)

सभी

सभी

 

विद्युत गुणों का परीक्षण

 

 

सी स्तर

विद्युत परीक्षण (अनुलग्नक C.3)

116 टुकड़े

सभी

 

उम्र परीक्षण

 

 

डी स्तर

बर्न-इन परीक्षण (परीक्षण से पहले और बाद में) (अनुलग्नक C.4)

45 टुकड़े

45 टुकड़े या सभी (बैच मात्रा 45 टुकड़ों से कम)

 

कसाव की पुष्टि (न्यूनतम रिसाव दर और अधिकतम रिसाव दर)

 

 

ई स्तर

कसाव की पुष्टि (न्यूनतम और अधिकतम रिसाव दर) (अनुलग्नक C.5)

सभी

सभी

 

ध्वनिक स्कैनिंग परीक्षण

 

 

एफ स्तर

ध्वनिक स्कैनिंग माइक्रोस्कोप (अनुलग्नक C.6)

नियम से

नियम से

 

अन्य

 

 

जी स्तर

अन्य परीक्षण और निरीक्षण

नियम से

नियम से

 

नोट्स:

1. 10 से कम टुकड़ों के बैचों के लिए, कॉग्निजेंट इंजीनियर्स अपने विवेकानुसार, परीक्षण की गुणवत्ता और ग्राहक की सहमति के अधीन, "हानिकारक" परीक्षण के लिए नमूने के आकार को 1 टुकड़े तक कम कर सकते हैं।

2. पुनः टाइपिंग और नवीनीकरण परीक्षण के लिए नमूने “उपस्थिति परीक्षण - विस्तार परीक्षण” के बैच से चुने जा सकते हैं।

3. “उपस्थिति परीक्षण – विस्तार परीक्षण” के लिए बैच से लीड परीक्षण नमूने का चयन किया जा सकता है।

4. ओपन कवर परीक्षण नमूने “रीटाइपिंग और रिफर्बिशिंग टेस्ट” से गुजरने वाले बैच से चुने जा सकते हैं।


पोस्ट करने का समय: जुलाई-08-2023