वन-स्टॉप इलेक्ट्रॉनिक विनिर्माण सेवाएँ, आपको पीसीबी और पीसीबीए से अपने इलेक्ट्रॉनिक उत्पाद आसानी से प्राप्त करने में मदद करती हैं

AS6081 परीक्षण मानक

परीक्षण एवं निरीक्षण

न्यूनतम नमूना आकार

स्तर

 

 

बैच की मात्रा 200 टुकड़ों से कम नहीं है

बैच मात्रा: 1-199 टुकड़े (नोट 1 देखें)

 

आवश्यक परीक्षण

 

 

एक स्तर

अनुबंध पाठ और एनकैप्सुलेशन

 

 

A1

अनुबंध पाठ और पैकेजिंग निरीक्षण (4.2.6.4.1) (गैर-विनाशकारी)

सभी

सभी

 

उपस्थिति का निरीक्षण

 

 

A2

एक। कुल मिलाकर (4.2.6.4.2.1) (गैर-विनाशकारी)

सभी

सभी

 

बी। विवरण (4.2.6.4.2.2) (गैर-विनाशकारी)

122 टुकड़े

122 टुकड़े या सभी (बैच मात्रा 122 टुकड़े से कम)

 

पुनः टाइप करना और नवीनीकरण करना (हानिपूर्ण)

नोट 2 देखें

नोट 2 देखें

A3

टाइपिंग के लिए सॉल्वेंट टेस्ट (4.2.6.4.3ए) (हानिपूर्ण)

3टुकड़े

3टुकड़े

 

नवीनीकरण के लिए विलायक परीक्षण (4.2.6.4.3बी) (हानिकारक)

3टुकड़े

3टुकड़े

 

एक्स रे का पता लगाना

 

 

A4

एक्स-रे डिटेक्शन (4.2.6.4.4) (गैर-विनाशकारी)

45 टुकड़े

45 टुकड़े या सभी (बैच मात्रा 45 टुकड़ों से कम)

 

लीड डिटेक्शन (एक्सआरएफ या ईडीएस/ईडीएक्स)

नोट3 देखें

नोट3 देखें

A5

एक्सआरएफ (हानिरहित) या ईडीएस/ईडीएक्स (हानिपूर्ण) (4.2.6.4.5) (अनुलग्नक सी.1)

3टुकड़े

3टुकड़े

 

खुला कवर आंतरिक विश्लेषण (हानिकारक)

नोट6 देखें

नोट6 देखें

A6

खुला कवर (4.2.6.4.6) (हानिकारक)

3टुकड़े

3टुकड़े

 

अतिरिक्त परीक्षण (कंपनी और ग्राहक दोनों द्वारा सहमत)

 

 

 

पुनः टाइप करना और नवीनीकरण करना (हानिपूर्ण)

नोट 2 देखें

नोट 2 देखें

A3 विकल्प

स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (4.2.6.4.3C) (हानिकारक)

3टुकड़े

3टुकड़े

 

सतही मात्रात्मक विश्लेषण (4.2.6.4.3डी) (गैर-विनाशकारी)

5 टुकड़े

5 टुकड़े

 

ताप का परीक्षण

 

 

बी स्तर

थर्मल चक्र परीक्षण (अनुलग्नक सी.2)

सभी

सभी

 

विद्युत गुणों का परीक्षण

 

 

सी लेवल

विद्युत परीक्षण (अनुलग्नक सी.3)

116 टुकड़े

सभी

 

उम्र बढ़ने का परीक्षण

 

 

डी स्तर

बर्न-इन परीक्षण (परीक्षण से पहले और बाद में) (अनुलग्नक सी.4)

45 टुकड़े

45 टुकड़े या सभी (बैच मात्रा 45 टुकड़ों से कम)

 

जकड़न की पुष्टि (न्यूनतम रिसाव दर और अधिकतम रिसाव दर)

 

 

ई लेवल

जकड़न की पुष्टि (न्यूनतम और अधिकतम रिसाव दर) (अनुलग्नक सी.5)

सभी

सभी

 

ध्वनिक स्कैनिंग परीक्षण

 

 

एफ स्तर

ध्वनिक स्कैनिंग माइक्रोस्कोप (अनुलग्नक C.6)

नियम से

नियम से

 

अन्य

 

 

जी लेवल

अन्य परीक्षण एवं निरीक्षण

नियम से

नियम से

 

टिप्पणियाँ:

1. 10 टुकड़ों से कम के बैच के लिए, कॉग्निजेंट इंजीनियर अपने विवेक से, परीक्षण की गुणवत्ता और ग्राहक की सहमति के अधीन, "हानिपूर्ण" परीक्षण के लिए नमूना आकार को 1 टुकड़े तक कम कर सकते हैं।

2. रीटाइपिंग और रीफर्बिशिंग परीक्षण के लिए नमूने "उपस्थिति परीक्षण - विस्तृत परीक्षण" के लिए बैच से चुने जा सकते हैं।

3. लीड परीक्षण नमूनों को "उपस्थिति परीक्षण - विस्तृत परीक्षण" के लिए बैच से चुना जा सकता है।

4. ओपन कवर परीक्षण नमूनों को "रीटाइपिंग और रीफर्बिशिंग टेस्ट" से गुजरने वाले बैच से चुना जा सकता है।


पोस्ट समय: जुलाई-08-2023